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X荧光分析仪测厚仪镀层厚度测试仪

更新时间:2025-02-25 21:20:29 编号:402mq3dgof763b
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  • 金属镀层分析仪,X荧光光谱仪,X荧光分析仪,XRF仪器

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产品详情

X荧光分析仪测厚仪镀层厚度测试仪

关键词
膜厚仪,光谱仪,,测厚仪
面向地区

分析时间30秒分析误差3%镀层范围0.005~50微米元素范围从硫到铀

天瑞仪器是一家生产测量仪器的公司,其中荧光镀层测厚仪是其一款产品。

荧光镀层测厚仪是一种用来测量材料表面上的荧光涂层厚度的仪器。使用荧光测厚仪可以快速、准确地测量出涂层的厚度,以确保产品质量符合标准要求。

天瑞仪器的荧光镀层测厚仪具有、高稳定性、易操作等优点,广泛应用于电子、汽车、化工、航空航天等领域。

想要了解更多关于天瑞仪器荧光镀层测厚仪的信息,可以访问其网站或联系他们的客服人员。

设计亮点
全新的下照式设计,一键式的按钮,减少摆放样品时间。全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的测试。
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。

应用领域
分析超薄镀层,如镀层≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等镀层;
测量超小样品,直径≤0.1mm
印刷线路板上RoHS要求的痕量分析
合金材料的成分分析以及电镀液分析
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

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