关键词 |
回收TR-518FE测试仪 |
面向地区 |
TR-518FV在线测试仪 项 目 详 细 参 数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点 测试步骤 大步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.01Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V 电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V, 选配,HV,0.1V至48V
ICT的功能能在数秒钟内，全检出组装电路板上的零件-电阻、电容、电感、电晶体、二级管、稳压二级管、光偶器、继电器等零件是在我们的设计规格之内动作。能够先期找出制程不良所在，如漏件、错件、开路、短路、反向等不良问题。能够将上述问题以印表机印出结果，包括故障位置、零件标准值、测试值等，以供维修人员参考。
ICT测试仪在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，消除外围电路对测试的影响。
合肥本地回收TR-518FE测试仪热销信息
